深圳市金东测厚仪电镀检测有限公司

半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪 采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适  只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系

  公司名称：深圳市金东霖科技有限公司
 地址；    深圳沙井北环大道110号新综合大楼502
 联系人：  曹鹏   联系方式；13603036715

手机18129819201  QQ；2055499418
　  0755-29371652　
公司网址: http://www.kinglinhk.com